Modelo funcional de memória NAND Flash com injeção de falhas caracterizadas - Lopes, Guilherme Ferreira (Universidade do Vale do Rio dos Sinos, 2018)
Keywords: Modelo funcional; Memória NAND Flash; Inserção de Falhas; LogisimTM. VHDL; Algoritmo de teste; Interferência; Stuck-at; ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica