Método para análise dos riscos operacionais associados a falhas epidêmicas de novos produtos eletrônicos: uma proposta utilizando redes bayesianas
| Orientador(a) (dc.contributor.advisor) | Antunes Júnior, José Antônio Valle | |
| Coorientador(a) (dc.contributor.advisor-co1) | Vaccaro, Guilherme Luís Roehe | |
| Lattes Coorientador(a) (dc.contributor.advisor-co1Lattes) | http://lattes.cnpq.br/3189069617286709 | pt_BR |
| Lattes Orientador(a) (dc.contributor.advisorLattes) | http://lattes.cnpq.br/2828871234344046 | pt_BR |
| Autor(a) (dc.contributor.author) | Rossi Filho, Tito Armando | |
| Autor(a) Lattes (dc.contributor.authorLattes) | http://lattes.cnpq.br/8498341533049386 | pt_BR |
| Data de Disponibilização (dc.date.accessioned) | 2015-03-26T15:45:40Z | |
| dc.date.available (dc.date.available) | 2015-03-26T15:45:40Z | |
| Data da defesa / Data do evento (dc.date.issued) | 2011-03-25 | |
| Abstract (dc.description.abstract) | The competition between firms and supply chains, along with the increasing product complexity and existing legal regulations, have been resulting in increased operational risks due to failures of new products. In the electronics industry, especially for the consumer goods segment, the resulting economic risks of such failures may be significant to the profit of firms that design products. This is intensified when the failure rate is high, the so-called 'epidemic failures'. Nevertheless, the assessment of operational risks during the project of new electronic products seems to lack methods to address the uncertainties in a whole integrated approach, taking into consideration the technical and managerial risks, as well as the subjective knowledge of the experts. The present work aims to contribute to the topic, presenting the proposal of a new method for assessing the operational risks associated with epidemic failure of new electronic products. This proposed method was driven by the Design Research method, which enabled the development of a set of artifacts linked through five steps. The main artifact was constructed under the Bayesian Networks approach and it is comprised of a model developed through bibliographic research and interviews with six experts of the electronics industry. Based on the research delimitations, the developed model is composed by 21 constructs, which are interrelated and consider technical and managerial risks associated with Supply Chain, with Product Design, with Verification and Validation tests and with restrictions during the project. The performance evaluation of the method was carried out by a tentative application in a project being implemented at a multinational company established in Brazil. Three sets of potential changes to the project have been identified, for which it was estimated the reduction of operational risks compared to previously established thresholds, as well as evaluated the potential financial results of such changes throughout the product lifecycle. A conclusion is that the method may enhance the firm?s risk assessment process, especially due to the fact that it allows to feedback the probabilistic risk calculations by the record of project evidences. This research, besides contributing with a method proposal to support the new product risk management, indicated potential enhancements to the decision making and knowledge management in project environments. | en |
| Resumo (dc.description.resumo) | A competição entre empresas e cadeias produtivas, acompanhada da crescente complexidade dos produtos e de regulações legais, tem resultado no aumento dos riscos operacionais vinculados a falhas de novos produtos. Na indústria eletrônica, especialmente no segmento de consumo, as implicações econômicas das falhas podem ser muito significativas no lucro das empresas que projetam os produtos. Isso se amplifica quando o nível de falhas é elevado, o que se denomina "falhas epidêmicas". Todavia, a avaliação dos riscos operacionais durante o projeto de novos produtos eletrônicos ainda parece carecer de métodos que abordem as incertezas de forma integrada, considerando os riscos técnicos e gerenciais, bem como o conhecimento subjetivo dos especialistas. O presente trabalho visa contribuir com o tema, apresentando a proposta de um novo método para avaliação dos riscos operacionais associados a falhas epidêmicas em novos produtos eletrônicos. Esta proposta de método foi construída através de uma pesquisa direcionada pelo método Design Research, o qual possibilitou o desenvolvimento de um conjunto de artefatos encadeados através de cinco passos. O principal artefato foi construído utilizando a abordagem de Redes Bayesianas e consiste em um modelo embasado no referencial teórico e em entrevistas com seis especialistas da indústria eletrônica. A partir da delimitação da pesquisa, o modelo foi constituído de 21 construtos, os quais são relacionados entre si e englobam riscos técnicos e gerenciais associados à cadeia de suprimentos, ao processo de projeto, aos ensaios de verificação e validação e às restrições existentes durante o projeto do produto. A avaliação do desempenho do método foi realizada através de uma tentativa de aplicação em um projeto de uma empresa multinacional instalada no Brasil. Identificaram-se três conjuntos de possíveis alterações no projeto, para os quais se estimou a redução dos riscos operacionais frente a limiares previamente estabelecidos, assim como se avaliou os potenciais resultados financeiros de tais alterações ao longo do ciclo de vida do produto. Conclui-se que o método poderá agregar melhorias no processo de avaliação de riscos da empresa, especialmente pelo fato de prever a realimentação dos cálculos probabilísticos de risco através das evidências dos projetos. Esta pesquisa, além de contribuir com uma proposta de método para suportar o processo de Gestão de Riscos durante o desenvolvimento de novos produtos, indicou potenciais melhorias nos processos de tomada de decisão e gestão do conhecimento no ambiente de projetos. | pt_BR |
| Agência de fomento (dc.description.sponsorship) | Banco Santander / Banespa | pt_BR |
| URI (dc.identifier.uri) | http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/3164 | |
| Idioma (dc.language) | pt_BR | pt_BR |
| Nome da instituição (dc.publisher) | Universidade do Vale do Rio dos Sinos | pt_BR |
| País da Instituição (dc.publisher.country) | Brasil | pt_BR |
| Departamento (dc.publisher.department) | Escola Politécnica | pt_BR |
| Sigla da Instituição (dc.publisher.initials) | Unisinos | pt_BR |
| Programa (dc.publisher.program) | Programa de Pós-Graduação em Engenharia de Produção e Sistemas | pt_BR |
| Direitos de acesso ao documento (dc.rights) | openAccess | pt_BR |
| Assunto (dc.subject) | Riscos operacionais | pt_BR |
| Assunto (dc.subject) | Redes bayesianas | pt_BR |
| Assunto (dc.subject) | Indústria eletrônica | pt_BR |
| Assunto (dc.subject) | Confiabilidade | pt_BR |
| Assunto (dc.subject) | Operational risks | en |
| Assunto (dc.subject) | Bayesian networks | en |
| Assunto (dc.subject) | Electronics industry | en |
| Assunto (dc.subject) | Reliability | en |
| Tema (CNPq) (dc.subject.cnpq) | ACCNPQ::Engenharias::Engenharia de Produção | pt_BR |
| Título (dc.title) | Método para análise dos riscos operacionais associados a falhas epidêmicas de novos produtos eletrônicos: uma proposta utilizando redes bayesianas | pt_BR |
| Tipo de arquivo (dc.type) | Dissertação | pt_BR |
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