Estudo comparativo de algoritmos de ECC aplicados à memória NAND Flash

Carregando...
Imagem de Miniatura

Data de defesa

Autor(a)



Orientador(a)


Coorientador(a)


Título do periódico

ISSN

Título do volume

Nome da instituição

Universidade do Vale do Rio dos Sinos

Departamento

Escola Politécnica

Programa

Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica

Agência de fomento

Nenhuma
Resumo

Atualmente vários equipamentos eletrônicos são equipados com memórias NAND Flash para armazenar dados. Essas memórias são controladas através de um circuito integrado com um controlador de memória, que internamente possui um sistema para garantir a integridade das informações armazenadas, os quais são conhecidos por Error Correction Codes (ECC). Os ECCs são códigos capazes de detectar e corrigir erros através de bits redundantes adicionados à informação. Normalmente, os códigos ECC são implementados em hardware dentro do controlador de memória NAND Flash. Neste trabalho comparou-se alguns códigos de ECC utilizados pela indústria, para as comparações utilizou-se os códigos ECC: Hamming, BCH (Bose-Chaudhuri-Hocquenghem) e Reed- Solomon. Sistematicamente realizou-se comparações entre os ECCs selecionados e escolheu-se os dois mais apropriados (BCH e Hamming), os quais foram implementados em linguagem VHDL, o que possibilitou identificar o código com melhor vantagem econômica no uso em memórias NAND Flash.


Tema (CNPq)

ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica

Tipo de arquivo

Dissertação

Como citar

Avaliação

Revisão

Suplementado Por

Referenciado Por