RPAO: repositório de padrões de análise mapeados em ontologias

Orientador(a) (dc.contributor.advisor)Pinto, Sérgio Crespo C. S.
Autor(a) (dc.contributor.author)Galina, Cristiano Toniettopt_BR
Autor(a) Lattes (dc.contributor.authorLattes)http://lattes.cnpq.br/0107065050849957pt_BR
Data de Disponibilização (dc.date.accessioned)2015-03-05T13:58:26Z
dc.date.available (dc.date.available)2015-03-05T13:58:26Z
Data da defesa / Data do evento (dc.date.issued)2007-02-27
Abstract (dc.description.abstract)Application of analysis patterns aims at promoting reuse under efficient software engineering. Reuse is due to software engineers’ experience in identifying patterns and in describing them in a way that other kinds of projects are able to employ analysis patterns already identified. Engineering of requisites has great influence in developing analysis patterns. This paper aims at creating a selection of analysis patterns once there are not many tools available for the storage of such patterns. It also aims at mapping them under the OWL format ontologism. Ontologies are generated by the software every time that a pattern is categorized, therefore, all documented pattern is available by the ontology regarding its pattern structure. Besides the pattern storage of analysis, the tool also performs a mapping with the requisites and the artifacts, which are likely to produce a pattern that present the basis of the knowledge pattern. Following, it is possible to visualize the reuse of patterns through a graphic deveen
Resumo (dc.description.resumo)A aplicação de padrões de análise visa promover o reuso, de maneira eficiente, de boas práticas da engenharia devsoftware. O reuso deve-se à experiência dos engenheiros de software ao identificar os padrões e descrevê-los de forma que outros projetos também usufruam do padrão de análise já identificado. A engenharia de requisitos tem uma grande influência na descoberta de padrões de análise. Esta dissertação se propõe a criar um repositório de padrões de análise, visto que o mercado não oferece hoje uma ferramenta propícia para o armazenamento dos padrões de análise e mapeamento em ontologias no formato OWL. As ontologias são geradas pelo software toda vez que um padrão é catalogado, portanto, todo padrão documentado é disponível por uma ontologia com a estrutura do padrão. Além do armazenamento de padrões de análise, a ferramenta realiza um mapeamento com requisitos e artefatos, os quais possivelmente originam um padrão, desta forma apresentando uma base de conhecimento do padrão. Em seguida é possível visupt_BR
Agência de fomento (dc.description.sponsorship)Nenhumapt_BR
URI (dc.identifier.uri)http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/2240
Idioma (dc.language)pt_BRpt_BR
Nome da instituição (dc.publisher)Universidade do Vale do Rio do Sinospt_BR
País da Instituição (dc.publisher.country)Brasilpt_BR
Departamento (dc.publisher.department)Escola Politécnicapt_BR
Sigla da Instituição (dc.publisher.initials)UNISINOSpt_BR
Programa (dc.publisher.program)Programa de Pós-Graduação em Computação Aplicadapt_BR
Direitos de acesso ao documento (dc.rights)openAccesspt_BR
Assunto (dc.subject)engenharia de requisitopt_BR
Assunto (dc.subject)padrão de análisept_BR
Assunto (dc.subject)reusopt_BR
Assunto (dc.subject)softwarept_BR
Assunto (dc.subject)engenhariapt_BR
Tema (CNPq) (dc.subject.cnpq)Ciências Exatas e da Terrapt_BR
Título (dc.title)RPAO: repositório de padrões de análise mapeados em ontologiaspt_BR
Tipo de arquivo (dc.type)Dissertaçãopt_BR

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